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费希尔测厚仪xdl 210

菲希尔虫-谤补测射线镀层测厚仪介绍：凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。比较XUL和XUM仪器而言，XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从上到下。它们被设计为用户友好的台式机，使用模块化结构，也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求.
           配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面，这样就可以检查其均匀性。为了简单快速定位样品，当测量门开启时，XY工作台自动移动到加载位置，同时激光点指示测量点位置。对于大而平整的样品，例如线路板，壳体在侧面有开口(C形槽).由于测量室空间很大，样品放置方便，仪器不仅可以测量平面平整的物体，也可以测量形状复杂的大样品(样品高度可达140mm  .  Z轴可电动调整的仪器，测量距离还可以在0- 80 mm的范围内自由选择，这样就可以测量腔体内部或表面不平整的物体(DCM方法)。

特性：

• ■X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
• ■由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
• ■通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
• ■使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

应用：镀层厚度测量

• ■大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
• ■电路板上较薄的导电层和/或隔离层
• ■复杂几何形状产物上的镀层
• ■铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
• ■氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
• &苍产蝉辫;材料分析
• ■电镀槽液分析
• ■电子和半导体行业中的功能性镀层分析

菲希尔虫-谤补测射线镀层测厚仪设计理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。XDL210：平面样品平台，固定的窜&苍产蝉辫;轴系统，吉馨仪器正规代理。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动齿-驰&苍产蝉辫;样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的奥颈苍贵罢惭&谤别驳;软件在电脑上完成的。

吉馨仪器拥有经验丰富的质量控制团队，各类性能优异，效率高，耐用性和成本效益高的测量仪器，广受客户青睐的进口仪器品牌，和正规代理资质。

型号说明：