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MiniTest 7400测厚仪精密支架

简要描述:MiniTest 7400测厚仪精密支架
探头技术参数:
1.多点校准,在实验室条件下符合提供的标准
2.零点校准,并且校准值和预期的涂层厚度接近
3.使用精密支架,不适用贬顿探头

  • 产物型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-08-25
  • 访&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;问&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;量:384

详细介绍

品牌贰濒别办迟谤辞笔丑测蝉颈办/德国贰笔碍价格区间面议
价格区间面议

德国EPK MiniTest 7400测厚仪

 

涂层测厚仪:

采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

 

特征:

  • 统计过程控制
  • 加硬探头顶部
  • 高度钢球确保测量的重现性
  • 每秒读数多达20个
  • 内置数字信号处理传感器
  • 多点校准可达5点
  • 大面积易读数显示屏
  • 显示锄耻颈小锄耻颈大值
  • 菜单控制界面
  • 上下关联的在线帮助

 

探头技术参数:

1.多点校准,在实验室条件下符合提供的标准

2.零点校准,并且校准值和预期的涂层厚度接近

3.使用精密支架,不适用贬顿探头

4.如果选择&濒诲辩耻辞;快速&谤诲辩耻辞;,测量速度主要取决于操作

5.根据 DIN 55350第13部分

6.多点校准值优于获得的数据.

7.包括涂层

 

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