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ElektroPhysik测厚仪校准程序-MINITEST 3100

（一）校准有五种不同的方法：
1.标准校准：推荐用于均匀表面上的测量，如果物体与贰濒别办迟谤辞笔丑测蝉颈办零板具有相同的材料，尺寸和冲击度。
2.单点校准（无需使用振动箔调零）：如果允许误差p为±（读数的3％*加上探头的常数误差），则推荐使用。 （恒定探针的实例：F.1.6：1μm）。
3.两点校准（使用校准箔进行校准和校准）：如果预期的读数将接近校准值，则推荐探针的允许误差为±（1％... 3％读数*（根据探头）加恒定探头误差）*参照实验室条件下提供的校准标准。
4.两点校准（使用一组两个校准箔）：

•      a）推荐用于粗糙表面上的测量。
•      b）如果要预期的厚度在两个校准箔的厚度之间，建议在光滑表面上进行测量。

5.通过涂层（CTC）进行校准：使用校准箔校准。如果测试样品被涂覆并且没有未涂覆的样品可用于比较，则推荐使用。该方法适用于以下探针：F05，F1.6，F3和FN1.6（仅含铁部件），F1.6 / 90，F2 / 90，F10，F20和F50。

（二）存储校准值
如果仪表为特定目的进行校准，则校准值将存储在存储器中，直到更改为止（参见4.1.8校准值的稳定性）。如果要对某个探头进行校准，只需进行重新校准即可。 这将自动删除以前的校准值，并保存新的校准值以便立即使用。

校准程序应从头开始重新启动，如果

• 读取不正确
• 输入了不正确的命令
• 仪表已关闭

（叁）校准示例
校准是测量的zui重要的要求。 校准样品与产物样品匹配越紧密，校准越准确，因此读数越高。 例如，如果要在钢瓶上测量产物，则质量ST37（软钢），ø6 mm，未涂覆样品的校准必须在相同质量的钢制圆筒上进行，直径相同。
校准样品必须以下列方式对应产物样品：

• 曲率半径
• 基材特性
• 基板厚度
• 测量面积大小
• 进行校准的点

校准样品必须始终与产物本身的测量点相同，特别是在小零件的拐角和边缘的情况下。 精准台在这里将是无价的。 有关详细信息，请参阅技术数据。